Besplatni softveri:
Besplatno - programski paket GOM Correlate. Molimo, ispunite upitnik Besplatno - programski paket GOM Inspect. Molimo, ispunite upitnik

Uvodni seminari 2017:
Uvodni seminari GOM Inspect

Zatražite prezentaciju: info@topomatika.hr

 

 

Ovlašteni zastupnik za:

GOM optički trokoordinatni mjerni uređaji: 3D skeneri, fotogrametrija, analiza pomaka i deformacijaGeomagic programski paketi: reverzibilno inženjerstvo, 3D modeliranje, vizualizacija, osiguranje i kontrola kvaliteteVision engineeringHegewald & Peschke kidalice

 

Novo:
ATOS Capsule

Novi ATOS Capsule
 

 

ATOS
Core

 

Najnoviji GOM mjerni sustav ATOS Core
 

 

ATOS
Triple
Scan

 

Najmoderniji industrijski 3D digitalizator ATOS Triple Scan
 

 

ATOS
ScanBox

 

GOM mjerne stanice ATOS ScanBox
 

Hegewald
&Peschke kidalice

Hegewald & Peschke uređaji za ispitivanje materijala i komponenti
 

VISION Engineering mikroskopi

VISION Engineering stereo, mjerni i laboratorijski mikroskopi
 

 

GEOMAGIC
Design X

Geomagic Design Direct
 

 

Novosti

 

GOM webinar / 13. 7. 2017. >

Besplatni GOM trening webinar "Analiza površine limenih objekata" održan je 13. 7. 2017. u 9, 13 i 17 sati. Pogledajte snimku!

 

TOPOMATIKA konferencija / 11. 10. 2017.

Pozivamo vas na TOPOMATIKA konferenciju - forum 3D mjernih tehnologija povodom naše 15. godišnjice...

 

GOM konferencija / 15. - 19. 5. 2017. >

Pridružite nam se na GOM 3D Metrology Conference 2017 u Braunschweigu u Njemačkoj...

 

GOM Education Award / do 15. 6. 2017.

Međunarodno natjecanje za studente u kreiranju laboratorijskih eksperimenata na temu 3D skeniranja...

 

IRT forum 2017 / 5. i 6. 6. 2017. >

Na 9. industrijskom forumu u Portorožu, prikazali smo na zanimljivim primjerima primjenu inovativnih 3D tehnologija...

 

ATOS Capsule / 1. 2017. >

GOM-ov novi precizni mjerni uređaj za prikupljanje podataka o finim detaljima površina precizno oblikovanih dijelova...

 

ARAMIS for Education / 8. 2016. >

Novi GOM-ov edukacijski paket namijenjen je za nastavu i obuku u području ispitivanja materijala i komponenti...

 

>